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Les travaux de recherche en Energétique du Bâtiment sont cofinancés par l’Union européenne.
L’Europe s’engage en Haute Normandie avec le Fonds européen de développement régional (FEDER).


Accueil du site > Visite virtuelle > Moyens exprimentaux > Microscopie > Microscope à force atomique (AFM)

Microscope à force atomique (AFM)

Marque et modèle :Brüker Innova
Fonction :
Le microscope Innova permet d’imager des surfaces allant de 1 à 100 µm de large et avec des aspérités de 10 µm maximum. Son scanner en boucle fermée lui permet d’atteindre des résolutions de l’ordre de 0,4 nm.
Il est utile pour la caractérisation des matériaux et des surfaces (rugosité, topographie, hétérogénéités chimiques), des colloïdes (mesure de taille) et des inclusions.
De nombreux types d’imagerie sont disponibles, dont l’imagerie de phase en mode tapping et l’imagerie de force latérale en mode contact.

Exemple d’utilisation :Nanoparticules inorganiques